共同利用機器のご案内

大学内利用だけでなく、地域の産業界へ先端機器の開放を行っております。ポストLEDフォトニクス研究所としては、テラヘルツ分光計、赤外分光顕微鏡（FT-IR）、原子間力顕微鏡の3機器を所有しています。
ご利用方法、装置の詳細等につきましては、以下をご参照ください。

テラヘルツ分光計

機器名

テラヘルツ分光計

メーカー

株式会社アドバンテスト

型番

TAS1110，TAS1130，TAS7500

概要

テラヘルツ波長帯域の分光測定、イメージング測定

用途

生体物質、半導体材料、樹脂材料、メタマテリアル、食品、建材、農作物などの材料の検査

仕様

波長帯域：0.1〜7テラヘルツ
測定モード：透過/反射/ATR(分光のみ)
試料サイズ：φ5mm〜30mm、厚さ10cm以下

予約方法

ご利用の際は、以下からご予約ください。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp

お問い合わせ先

詳細につきましては、以下からお問い合わせをお願い致します。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp/inquiry

赤外分光顕微鏡(FT-IR)

機器名

赤外分光顕微鏡(FT-IR)

メーカー

日本分光株式会社

型番

FT/IR-6600, IRT-5200-16

概要

赤外波長域の分光測定、イメージング測定

用途

無機、有機、高分子材料、半導体材料、メタマテリアル等の特性評価、物質の同定​

仕様

波長帯域：7800cm-1〜350cm-1
測定モード：透過/反射/ATR
その他付属品： 拡散反射測定装置

予約方法

ご利用の際は、以下からご予約ください。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp

お問い合わせ先

詳細につきましては、以下からお問い合わせをお願い致します。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp/inquiry

原子間力顕微鏡

機器名

原子間力顕微鏡

メーカー

株式会社日立ハイテク

型番

AFM5500M

概要

ナノスケール単位での表面形状測定

用途

ナノ構造、メタマテリアル、ポリマー材料、高機能グラフェン材料等の試料の構造を原子サイズレベルで評価​

仕様

試料サイズ（最大値）：厚さ20mm, 直径100mmφ,2kg

予約方法

ご利用の際は、以下からご予約ください。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp

お問い合わせ先

詳細につきましては、以下からお問い合わせをお願い致します。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp/inquiry