徳島大学ポストLEDフォトニクス研究所

共同利用機器Shared Equipment

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共同利用機器Shared Equipment

共同利用機器のご案内

大学内利用だけでなく、地域の産業界へ先端機器の開放を行っております。ポストLEDフォトニクス研究所としては、テラヘルツ分光計、赤外分光顕微鏡(FT-IR)、原子間力顕微鏡の3機器を所有しています。
ご利用方法、装置の詳細等につきましては、以下をご参照ください。

テラヘルツ分光計
テラヘルツ分光計
機器名
テラヘルツ分光計
メーカー
株式会社アドバンテスト
型番
TAS1110,TAS1130,TAS7500
概要
テラヘルツ波長帯域の分光測定、イメージング測定
用途
生体物質、半導体材料、樹脂材料、メタマテリアル、食品、建材、農作物などの材料の検査
仕様
波長帯域:0.1〜0.7テラヘルツ
測定モード:透過/反射/ATR(分光のみ)
試料サイズ:φ5mm〜30mm、厚さ10cm以下
予約方法
ご利用の際は、以下からご予約ください。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp

お問い合わせ先
詳細につきましては、以下からお問い合わせをお願い致します。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp/inquiry

赤外分光顕微鏡(FT-IR)
原子間力顕微鏡
機器名
赤外分光顕微鏡(FT-IR)
メーカー
日本分光株式会社
型番
FT/IR-6600, IRT-5200-16
概要
赤外波長域の分光測定、イメージング測定
用途
無機、有機、高分子材料、半導体材料、メタマテリアル等の特性評価、物質の同定​
仕様
波長帯域:7800cm-1〜350cm-1
測定モード:透過/反射/ATR
その他付属品: 拡散反射測定装置
予約方法
ご利用の際は、以下からご予約ください。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp

お問い合わせ先
詳細につきましては、以下からお問い合わせをお願い致します。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp/inquiry

原子間力顕微鏡
赤外分光顕微鏡(FT-IR)
機器名
原子間力顕微鏡
メーカー
株式会社日立ハイテク
型番
AFM5500M
概要
ナノスケール単位での表面形状測定
用途
ナノ構造、メタマテリアル、ポリマー材料、高機能グラフェン材料等の試料の構造を原子サイズレベルで評価​
仕様
試料サイズ(最大値):厚さ20mm, 直径100mmφ,2kg
予約方法
ご利用の際は、以下からご予約ください。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp

お問い合わせ先
詳細につきましては、以下からお問い合わせをお願い致します。

https://kiki.st.tokushima-u.ac.jp/inquiry

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